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    發布時間:2019-12-18 14:34 ???點擊數:

    HAST高壓加速壽命老化試驗箱產品詳情

    • 產品簡介: HAST高壓加速壽命老化試驗箱產品詳情用于調查分析何時出現電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀
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    • 產品詳情

    HAST高壓加速壽命老化試驗箱產品詳情  
    用于調查分析何時出現電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高,目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效,因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間,采用了壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型:即HAST和USHAST(HAST)現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化。
     HAST高壓加速壽命老化試驗箱產品詳情
    HAST高壓加速壽命老化試驗箱型號技術參數:HAST-30、HAST-40、HAST-50、HAST-60  
    規格內:ф30x45、ф45x50、ф55x60、ф65x70  
    溫度范圍:+100℃~132℃  
    濕度范圍:可調100%RH飽和蒸氣固定  
    壓力范圍:環境大氣壓+0.5—2kg/cm2  
     
    HAST高壓加速壽命老化試驗箱性能:操作環境需在室溫30℃以下且通風良好之條件下進行.  
    1.溫度范圍:110℃/132℃.(飽和蒸氣溫度).  
    2.濕度范圍:100%RH.(飽和蒸氣濕度).  
    3.壓力范圍:0.5Kg/cm2~2.0Kg/cm2控制點壓力(壓力容量3.5Kg/cm2).  
    4.時間范圍:0~999小時可調.  
    5.溫度分布:(+/-)2.0℃.  
    6.升溫時間:RT~132℃約35分鐘內.(控制點溫度)  
    7.加壓時間:0.0Kg/cm2~2.0Kg/cm2約40分鐘內(控制點壓力)。  
     
    HAST高壓加速壽命老化試驗箱控制系統:  
    1.微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器.  
    2.本系統符合高壓加速老化之可靠度試驗規格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、NACE、UL、MIL…  
    3.控制對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度.  
    4.控制方式:微電腦PID控制.  
    5.控制精度:(+/-)0.5℃.  
    6.解析精度:0.1℃.  
    循環方式:飽和水蒸氣自然對流循環方式.  
    溫度感應器:(RTD)PT-100Ω(鉑金電阻).  
    加溫電熱器:絕緣耐壓型溫度電熱器.  
    所發布的各款試驗設備價錢僅為象征性的展示,不能作為實際價,實際價錢以艾思荔業務員根據客戶的要求所做的報價單為準
     


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